高濃度納米粒度及zeta電位分析儀的介紹與說明
更新時間:2023-05-10 點擊次數(shù):502
高濃度納米粒度及zeta電位分析儀可以迅速確定納米顆粒的粒徑和zeta電位,對于納米材料的研究具有非常重要的意義。是一種非常精密的設(shè)備,在使用時需要特別小心,因為其測試結(jié)果非常準(zhǔn)確,在使用過程中不能受到任何的外部干擾,否則會影響到其測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。主要由激光光源、粒徑分析器和zeta電流儀組成。其原理是先將待測樣品通過超聲波等方法將粒子分散均勻,然后利用激光散射原理檢測粒子的大小和zeta電位的值。
高濃度納米粒度及zeta電位分析儀可以廣泛應(yīng)用于生物、醫(yī)學(xué)、環(huán)境、材料、電子、以及食品等領(lǐng)域。在生物學(xué)和醫(yī)學(xué)中,可用于研究納米藥物的分散狀態(tài)和組分含量等問題;在環(huán)境學(xué)中,用于研究水、空氣和土壤中的納米材料;在材料學(xué)和電子學(xué)中,可以用于研究納米電子器件和半導(dǎo)體材料的制備等;在食品學(xué)中,可以用于研究各種加工食品中納米材料的含量和分布等問題。在不同領(lǐng)域的應(yīng)用中,這種儀器為研究人員提供了非常重要的數(shù)據(jù),并在很大程度上推動了納米材料技術(shù)的發(fā)展。
zeta電位是材料分散系統(tǒng)中顆粒表面電荷分布與周圍介質(zhì)之間的電勢差,在許多顆粒表面化學(xué)反應(yīng)與物理作用中,起重要的作用。電位的測定可以幫助我們了解材料表面的化學(xué)性質(zhì),顆粒間相互作用的機制,以及材料在工業(yè)生產(chǎn)過程中的穩(wěn)定性和流變性等重要性質(zhì)。通常采用激光多角度散射技術(shù)或電泳測量技術(shù),通過對樣品的分散液進行測量,計算出粒子在電場中的遷移速度,從而求出zeta電位。
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