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原位納米粒度儀對(duì)于樣品的要求有哪些

更新時(shí)間:2020-11-17      點(diǎn)擊次數(shù):952
   原位納米粒度儀是基于光纖動(dòng)態(tài)光散射(DLS)技術(shù)的納米級(jí)懸浮和膠體特性的*表征儀器。監(jiān)測(cè)納米顆粒合成,團(tuán)聚或懸浮體系穩(wěn)定性研究,幫助您實(shí)時(shí)分析樣品動(dòng)力學(xué)。*的“時(shí)間切片” 功能允許VASCO KinTM 用戶對(duì)測(cè)試后的數(shù)據(jù)進(jìn)行任意時(shí)間段內(nèi)的粒徑分析。用戶可以獲得所選時(shí)間尺度的相應(yīng)的相關(guān)圖和粒度分布。 穩(wěn)頻激光光源,雪崩光電二極管(APD)探測(cè)器;可直接測(cè)量亞納米樣品(如蛋白質(zhì)),無需稀釋,測(cè)量精度高。
  原位納米粒度儀樣品要求:
  1)粉末藥品,確保在水溶液中有良好的分散性,20毫克以上,只能測(cè)水溶劑中性的
  2)液體樣品,只能以水為溶劑
  3)測(cè)試zeta樣品,選擇水為分散介質(zhì)
  4)測(cè)定樣品在不同pH值條件下的粒徑和電位,請(qǐng)自行調(diào)好pH值
  5)有毒易揮發(fā)樣品請(qǐng)?zhí)崆案嬷?/div>
  6)樣品測(cè)試完畢要回收,請(qǐng)?zhí)崆案嬷?/div>
  原位納米粒度儀主要特點(diǎn):
  ﹡采用新的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
  ﹡異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),提高分析結(jié)果的可靠性。
  ﹡可控參比方法(CRM),能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度。
  ﹡超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測(cè)試的準(zhǔn)確性。
  ﹡快速傅利葉變換算法,迅速處理檢測(cè)系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時(shí)間。
  ﹡膜電極設(shè)計(jì),避免產(chǎn)生熱效應(yīng),能準(zhǔn)確測(cè)量顆粒電泳速度。
  ﹡消除多種空間位阻對(duì)散射光信號(hào)的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。
  原位納米粒度儀是一臺(tái)高性能雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀,采用動(dòng)態(tài)光散射法,結(jié)合“NIBS”光學(xué)器件,可增強(qiáng)對(duì)聚集體的檢測(cè),還可測(cè)量小尺寸或稀釋樣品,以及極低濃度或高濃度樣品。 ZSE還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子的zeta電位分析儀,以及靜態(tài)光散射法表征分子量。
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